Detalhes do produto:
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Recebendo a superfície: | φ0,2 mm | Encapsulamento: | Metal |
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Categoria do pacote: | TO18 | Comprimento de onda de sensibilidade máxima (valor típico): | 800 Nm |
Destacar: | APD de silício com coeficiente de baixa temperatura,APD de silício de banda de 800 nm,APD de encapsulamento metálico de silício |
Descrição do produto:
S12060-02 APD de silício Coeficiente de baixa temperatura para banda de 800 nm
Características:
Coeficiente de baixa temperatura para banda de 800 nm
Este é um APD de silício de infravermelho próximo de 800 nm para operação estável numa ampla gama de temperaturas.Esta é adequada para aplicações como medidores de distância de ondas de luz e transmissão espacial de luz (óptica do espaço livre).
peculiaridade
- Coeficiente de temperatura da tensão de ruptura: 0,4 V/°C
- Resposta de alta velocidade.
- Alta sensibilidade e baixo ruído
Tipo Tipo infravermelho próximo
(Coeficiente de temperatura baixa)
Superfície receptora φ1 mm
Outros metais
Categoria de embalagem TO-18
Comprimento de onda de sensibilidade máxima (valor típico) 800 nm
Faixa de comprimento de onda de sensibilidade de 400 a 1000 nm
Fotossensibilidade (valor típico) 0,5A/W
Corrente escura (máximo) 2 nA
Frequência de corte (valor típico) 600 MHz
Capacidade de junção (típica) 6 pF
Tensão de ruptura (valor típico) 200 V
Coeficiente de temperatura da tensão de ruptura (valor típico) 0,4 V/°C
Taxa de ganho (valor típico) 100
Condições de medição Valor típico Ta = 25°C, salvo indicação em contrário,
Sensibilidade: λ = 800 nm, M = 1
Especificações:
Voltagem inversa (máximo) | 5 V |
Intervalo de resposta espectral | 400 a 1000 nm |
Comprimento de onda de sensibilidade máxima (valor típico) | 800 nm |
Fotossensibilidade (valor típico) | 0.5A /W |
Pessoa de Contato: Miss. Xu
Telefone: 86+13352990255